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技術(shù)文章

測(cè)量的基本分類

閱讀:1727          發(fā)布時(shí)間:2022-9-6

測(cè)量的基本分類

 

測(cè)量方法分類 根據(jù)獲得測(cè)量結(jié)果的不同方式可分為:

 

直接測(cè)量和間接測(cè)量: 從測(cè)量器具的讀數(shù)裝置上直接得到被測(cè)量的數(shù)值或?qū)?biāo)準(zhǔn)值的偏差稱直接測(cè)量。如用游標(biāo)卡尺、外徑千分尺測(cè)量軸徑等。
通過測(cè)量與被測(cè)量有一定函數(shù)關(guān)系的量,根據(jù)已知的函數(shù)關(guān)系式求得被測(cè)量的測(cè)量稱為間接測(cè)量。如通過測(cè)量一圓弧相應(yīng)的弓高和弦長(zhǎng)而得到其圓弧半徑的實(shí)際值。 

 

測(cè)量和相對(duì)測(cè)量:測(cè)量器具的示值直接反映被測(cè)量量值的測(cè)量為測(cè)量。用游標(biāo)卡尺、外徑千分尺測(cè)量軸徑不僅是測(cè)量,也是測(cè)量。將被測(cè)量與一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)量值進(jìn)行比較得到兩者差值的測(cè)量為相對(duì)測(cè)量。如用內(nèi)徑百分表測(cè)量孔徑為相對(duì)測(cè)量。 

 

接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量:測(cè)量器具的測(cè)頭與被測(cè)件表面接觸并有機(jī)械作用的測(cè)力存在的測(cè)量為接觸測(cè)量。如用光切法顯微鏡測(cè)量表面粗糙度即屬于非接觸測(cè)量。

 

單項(xiàng)測(cè)量和綜合測(cè)量:對(duì)個(gè)別的、彼此沒有聯(lián)系的某一單項(xiàng)參數(shù)的測(cè)量稱為單項(xiàng)測(cè)量。同時(shí)測(cè)量個(gè)零件的多個(gè)參數(shù)及其綜合影響的測(cè)量。用測(cè)量器具分別測(cè)出螺紋的中徑、半角及螺距屬單項(xiàng)測(cè)量;而用螺紋量規(guī)的通端檢測(cè)螺紋則屬綜合測(cè)量。

 

被動(dòng)測(cè)量和主動(dòng)測(cè)量:產(chǎn)品加工完成后的測(cè)量為被動(dòng)測(cè)量;正在加工過程中的測(cè)量為主動(dòng)測(cè)量。被動(dòng)測(cè)量只能發(fā)現(xiàn)和挑出不合格品。而主動(dòng)測(cè)量可通過其測(cè)得值的反饋,控制設(shè)備的加工過程,預(yù)防和杜絕不合格品的產(chǎn)生。

 

 

 

 

 

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