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使用Zernike 分析干涉條紋測量的結(jié)果實(shí)例 [入門教程 04]

閱讀:606          發(fā)布時(shí)間:2022-8-29

這是一個(gè)典型的干涉條紋分析實(shí)例:

我們使用下面的圖片,它可以來自干涉儀的測量或者直接拍攝的照片,格式為 JPG or BMP。

通過打開按鈕導(dǎo)入圖片

有效的測量孔徑是 95%, 如果你想修改這個(gè)參數(shù),請參考以下鏈接

.cn/en/technology/309-how-to-set-the-parameters-in-zernike.html

點(diǎn)擊分析按鈕

顯示頁面將會(huì)自動(dòng)切花拿到波面顯示,這里你直接可以看到分析的結(jié)果

ISO result: 3/ 0.24 / (0.19 / 0.16) 意味著光圈數(shù) N is 0.24 局部光圈 delta N 是 0.19.

PV = 0.196 波面的波峰谷高低差是 0.196 wave.

rms = 0.041 代表面型的均方根.

我們增加了像散 Astig 的直接顯示,通過這個(gè)數(shù)值看到像散對整體系統(tǒng)的貢獻(xiàn)是 0.031 wave.

如果你移除了power 選項(xiàng),PV 將會(huì)是局部光圈delta N 的 1/2 ,如果你進(jìn)行的是球面測量,那么應(yīng)該去掉 Power .

檢測報(bào)告上,你會(huì)看到同樣的結(jié)果

 

 

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